Lab Services

News (5)

Shopping online: 096-256-8811

Sales online - Call: 096-256-8811 Or Email: info@redstarvietnam.com
Technical support 096-256-8811
Technical Consultant

Hotline: 096-256-8811 (8h - 18h)
Email: info@redstarvietnam.com

Sitemap

Feedback

Red Star Vietnam Co., Ltd.

Cart 0

Total : đ

Home / Lab Services

Sort by
Brand
RED STAR VIETNAM

Sort by |

Compare

Scanning Electron Microscopy (SEM) with Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDX) Contact us State: In stock
Scanning Electron Microscopy (SEM) with Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDX) Call to price Scanning Electron Microscopy (SEM) with Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDX) SEM provides detailed high resolution images of the sample by rastering a focussed electron beam across the surface and detecting secondary or backscattered electron signal. An Energy Dispersive X-Ray Analyser (EDX or EDA) is also used to provide elemental identification and quantitative compositional information. SEM provides images with magnifications up to ~X50,000 allowing sub micron-scale features to be seen i.e. well beyond the range of optical microscopes. • Rapid, high resolution imaging with identification of elements present • Spatially resolved quantitative EDX (EDA) analysis of user defined areas on sample surface • Characterisation of particulates and defects • Examination of grain structure and segregation effects • Coating thickness measurement using cross sectional imaging of polished sections. Typical Applications • Characterisation of material structures • Assessment of reaction interfaces, service environment and degradation mechanisms • Characterisation of surface defects, stains and residues on metals, glasses, ceramics and polymers • Measurement of the thickness of layered structures, metallised layers, oxide films, composite materials using cross sectional imaging • Particulate and contaminant analysis on and within materials. Typical Industries using SEM/EDX • Aerospace • Automotive • Materials • Minerals • Glass, Ceramics and Refractories • Healthcare • Medical Devices • Semiconductors • Electronics • Telecommunication • Pharmaceutical Our Instruments: • HITACHI Tabletop Microscope TM3000 • OXFORD Energive-Dispersive X-Ray Analyzer SwiftED3000 • Low Speed Diamond Wheel Saw 650 CE • Diamond Loop Saw 875 D • 8” Grinder and Polisher 900 Our Capabilities: • SEM Analysis with EDX – qualitative and semi-quantitative results • Magnification from 15x to 30,000x • Detection element: B5 – U92
Dịch vụ phân tích lớp phủ và lớp mạ Contact us State: In stock
Dịch vụ phân tích lớp phủ và lớp mạ Call to price Dịch vụ phân tích lớp phủ và lớp mạ Công nghệ mạ và phủ hiện nay đang trở nên rất phổ biến và quan trọng trong nhiều ngành công nghiệp. Việc đánh giá chiều dày lớp mạ và phủ càng trở nên quan trọng vì chúng ảnh hưởng trực tiếp tới chất lượng của sản phẩm. Với bộ module của Leica Microsystem bao gồm Kính hiển vi quang học, camera số độ phân giải cao và phần mềm Leica Layer Thickness Expert, chất lượng mạ và phủ của sản phẩm sẽ được phân tích và đánh giá nhanh chóng và chính xác. Quá trình phân tích sẽ tự động nhận dạng lớp phủ hay mạ, đo chiều dày của chúng tại nhiều điểm và đưa ra chiều dày trung bình. Kết quả của quá trình phân tích được dùng để đánh giá chất lượng vật liệu thông qua đặc tính kỹ thuật, cung cấp thông tin về cấu trúc và tính chất của lớp phủ và mạ. Ưu điểm  Mang đến giải pháp toàn diện cho việc phân tích vi mô các lớp phủ và mạ của nhiều vật liệu khác nhau như sơn, mạ crôm và lớp phủ plastic.  Tương thích với nhiều dạng vật liệu, có từ giải pháp bằng tay tới tự động hoàn toàn.  Phù hợp với các đòi hỏi phân tích phòng thí nghiệm và đáp ứng được các các tiêu chuẩn công nghiệp (ASTM B487 và ISO 1463 cho công nghệ phủ oxit và kim loại)  Sự nhận diện các lớp layer thông qua quá trính xử lý công phu cho phép khách hàng có thể nhìn thấy kết quả chỉ sau vài giây. Phạm vi ứng dụng  Ngành điện tử viễn thông  Bán dẫn  Công nghiệp ô tô, xe máy  Hàng không  Trang trí Bộ thiết bị của chúng tôi  Leica DMS1000 Microsope  Leica DM2700 M Microscope  Camera CCD  Leica Layer Thickness Expert
[VN] Dịch vụ phân tích cấu trúc hạt và pha vật liệu Contact us State: In stock
[VN] Dịch vụ phân tích cấu trúc hạt và pha vật liệu Call to price [VN] Phạm vi ứng dụng: - Ngành nghiên cứu vật liệu - Ngành luyện kim - Ngành khai khoáng - Ngành công nghiệp gang thép Khả năng phân tích: - Phân tích cấu trúc hạt của vật liệu, giúp đánh giá chất lượng sản phẩm cuối - Đếm số hạt tự động theo nhiều phương pháp, đánh giá đặc tính của sản phẩm - Phân tích cấu trúc pha của vật liệu. - Đưa ra báo cáo dạng biểu đồ cùng hình ảnh với đầy đủ thông tin Promotion: