Focused Ion Beam Systems (FIB)

News (5)

Shopping online:

Sales online Email: info@redstarvietnam.com
Technical Consultant

Email: info@redstarvietnam.com

Sitemap

Feedback

Red Star Vietnam Co., Ltd.

Cart 0

Total : đ

Home / Analysis & Defect Review >> Electron Microscopes (EM) >> Focused Ion Beam Systems (FIB)

Sort by
Brand
HITACHI

Sort by |

Compare

Real-time 3D analytical FIB-SEM NX9000 Contact us State: Check with us
Real-time 3D analytical FIB-SEM NX9000 Call to price The newly developed FIB-SEM system from Hitachi, the NX9000 incorporates an optimized layout for true high resolution serial sectioning to tackle the latest demands in 3D structural analysis and for TEM analysis. The NX9000 FIB-SEM system allows the highest precision in material processing for a wide range of areas relating to advanced materials, electronic devices, biological tissues and a multitude of other applications.
[VN] Kính hiển vi chùm ion hội tụ & điện tử quét Hitachi DUE'T NB5000 Contact us State: Check with us
[VN] Kính hiển vi chùm ion hội tụ & điện tử quét Hitachi DUE'T NB5000 Call to price [VN] Hệ thống Hiển vi Chùm ion hội tụ & Điện tử quét (FIB-SEM) của Hitachi cho phép phân tích cỡ nano các thiết bị vi mô và vật liệu chức năng với hiệu suất cao chưa từng có. Hiệu suất và độ tin cậy vượt trội của Hitachi bên trong một hệ thống tích hợp (Hiển vi Chùm ion hội tụ (FIB) và Hiển vi Điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM) hiệu suất siêu cao) cho phép chuẩn bị mẫu năng suất cao, chụp ảnh độ phân giải cao và phân tích cũng như thiết kế và chế tạo các cấu trúc nano chính xác. Các kỹ thuật chế tạo mới cũng đã được phát triển cho các loại vật liệu nhạy cảm với bức xạ điện tử. Các cải tiến trong quy trình nạp mẫu, thăm dò mẫu và kỹ thuật Micro-sampling*1 giúp tăng hiệu suất phân tích. Promotion:
[VN] Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi FB2200 Contact us State: Check with us
[VN] Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi FB2200 Call to price [VN] Sản phẩm thế hệ mới cho năng suất, chất lượng và độ chính xác cao hơn. Có thể sử dụng để chuẩn bị mẫu hiển vi cho TEM nhờ khả năng đánh bóng ion diện tích lớn. Promotion: